Abstract:
Le présent mémoire vise à proposer une nouvelle version des modèles de
comportement des convertisseurs analogiques numériques CAN à 8bits, de type registre à approximation successive SAR, sachant qu'on a utilisé la technique de mode tension pour réaliser ce type de convertisseurs en technologie CMOS seulement. Ce travail a été réalisé
dans l'environnement MATLAB avec une focalisation détaillé sur les blocs constructifs des
convertisseurs analogiques numériques : comme l'échantillonneur bloqueur (E/B), le
comparateur, le convertisseur numérique analogique CNA et l'encodeur. Les deux blocs
échantillonneur E/B et CNA ont été mis en application en employant des commutateurs de
sources tension. En tenant compte des facteurs non-idéaux de chaque bloc
comme (phénomène " clock feedthrough " le phénomène " injection de charges ", l'erreur
sur l'instant échantillonnage " jitter ", le bruit de scintillation " flicker noise ", l'offset de
comparateur). Les résultats de simulation ont été analysés de maniéré à éclairer l'infection
des paramètres des convertisseurs par ces facteurs.
